Lists of achievements in 2004

<Scientific Papers>
No. Title Journal Authors
1 Recent Development of InN RF-MBE Growth and its Structural and Property Characterization phys. stat. sol. (c), 1, 6, 1487-1495 (2004) Y. Nanishi, Y. Saito, T. Yamaguchi, T. Araki and T. Miyajima
2 Effect of substrate polarity on growth of InN by RF-MBE J. Cryst. Growth, 269, 155-161 (2004) H. Naoi, F. Matsuda, T. Araki, A. Suzuki and Y. Nanishi
3 RF-MBE Growth of InN epitaxial films on (0001) sapphire and their properties J. Vac. Sci. Tech. B, 22, 2139-2143 (2004) T. Araki, Y. Saito, T. Yamaguchi, M. Kurouchi, Y. Nanishi and H. Naoi
4 Characterization of Photovoltaic Cells Using n-InN/p-Si Grown by RF-MBE Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 798, 237-242 (2004) C. Morioka, T. Yamaguchi, H. Naoi, T. Araki, A. Suzuki and Y. Nanishi
5 Structural Characterization of Low -Temperature InN Buffer Layer Grown by RF-MBE Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 798, 243-248 (2004) T. Araki and Y. Nanishi
6 Band-Gap Energy and Physical Properties of InN Grown by RF-Molecular Beam Epitaxyx Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 798, 189-200 (2004) Y. Nanishi, Y. Saito, T. Yamaguchi, F. Matsuda, T. Araki, H. Naoi, A. Suzuki, H. Harima and T. Miyajima
7 Correlation among Growth Conditions, Crystal Structures and Optical Properties of InN phys. stat. sol. (c), 2, 841-844 (2005) H. Naoi, M. Kuroychi, T. Araki, T. Yamaguchi and Y. Nanishi
8 Growth and properties of In-rich InGaN films grown on (0001) sapphire by RF-MBE phys. stat. sol. (b), 241, 12, 2843-2848 (2004) M. Kurouchi, T. Araki, H. Naoi, T. Yamaguchi, A. Suzuki and Y. Nanishi
9 RF-Molecular Beam Epitaxy Growth and Properties of InN and Related Alloys AAPPS Bulletin, 14, 3, 2-13 (2004) Y. Nahishi, Y. Saito and T. Yamaguchi
10 Fabrication and Characterization of InN-Based Quantum Well Structures Grown by Radio-Frequency Plasma-Assisted Molecular-Beam Epitaxy Jpn. J. Appl. Phys., 44, 7, 230-232 (2005). M. Kurouchi, H. Naoi, T. Araki, T. Miyajima and Y. Nanishi

<International Conferences>
No. Title Conference Authors
1 Improvement of In-rich InGaN Crystalline Quality by using InN Template 2004 E-MRS Spring Meeting*1
San Francisco, CA USA
M. Kurouchi, T. Yamaguchi, H. Naoi, A. Suzuki, T. Araki, Y. Nanishi
2 Optical Emission Spectroscopy during InN Growth by ECR-MBE ICCG-14/ICVGE-12*2, (2004.8) T. Koizumi, J. Wada, T. Ueno, N. Yamashita, T. Araki H. Naoi and Y. Nanishi
3 Growth of In-rich InGaN on InN template by RF-MBE ICCG-14/ICVGE-12*2, (2004.8) M. Kurouchi, T. Yamaguchi, H. Naoi, A. Suzuki, T. Araki, Y. Nanishi
4 Growth of high-quality InN films by insertion of high-temperature InN buffer layer ICCG-14/ICVGE-12*2, (2004.8) T. Yamaguchi, M. Kurouchi, H. Naoi, A.Suzuki, T. Araki1 and Y. Nanishi
5 Correlation among Growth Conditions, Crystal Structures and Optical properties of InN (Invited) PLMCN-4*3, (2004.6) Y. Nanishi, T. Araki, H. Naoi, M. Kurouchi, T. Yamaguchi
6 Structure and Properties of InN Growth by RF-MBE (Invited) XXXIII International School on the Physics of Semiconducting Compounds (Jaszowiec 2004), (2004.5) Yasushi Nanishi
7 Growth and Properties of Polycrystalline InN on Silica Glass by ECR-MBE IWN-2004*4, (2004.7) T. Araki, T. Ueno, H. Naoi and Y. Nanishi
8 Polarity determination of InN by wet etching IWN-2004*4, (2004.7) D. Muto, T. Araki, H. Naoi, F. Matsuda and Y. Nanishi
9 Cubic InN Growth on R-plane (10-12) Sapphire by ECR-MBE ISCS-2004*5 A. Tsuyuguchi, K. Teraki, T. Koizumi, J. Wada, T. Araki, H. Naoi and Y. Nanishi
10 Effects of the nitridation process of (0001) sapphire on crystalline quality of InN grown by RF-MBE 2004 MRS Fall Meeting*6
Hyness Convention Center, Boston, USA
D. Muto, R. Yoneda, H. Naoi, T. Araki and Y. Nanishi
11 Growth, structure and properties of InN and InGaN alloys by MBE (Invited) The 13th International Conference on Molecular Beam Epitaxy (MBE 2004), (2004.8) Y. Nanishi, T. Yamaguchi, M. Kurouchi, T. Araki, H. Naoi and A. Suzuki
12 Influences of thermal oxidation on properties of InN films 2004 Joint International Meeting (NITRIDE AND WIDE BANDGAP SEMICONDUCTORS FOR SENSORS, PHOTONICS AND ELECTRONICS V), (2004.10) T. Araki, R. Yoneda, K. Yorozu, H. Naoi, A. Suzuki and Y. Nanishi
13 Present Status and Material Issues of AlGaN/GaN HFETs (Invited) Symposium on Advanced Materials and NanoScience, (2004.8) Yasushi Nanishi
14 Present Status and Challenges of AlGaN/GaN HFETs (Invited) ICSICT 2004*7, (2004.10) Yasushi Nanishi
15 Growth and properties of InGaN alloys by RF-MBE (Invited) AFOSR Indium Nitride Workshop2, (2005.1) Y. Nanishi, M. Kurouchi, H. Naoi and T. Araki
16 Growth, structure and properties of InN, InNGaN and InN/InGaN quantum wells (Invited) Japan-Germany Colloquium 2005 Semiconductor Physics and Technology, (2005.2) Yasushi Nanishi

<Domestic Conferences>
No. Title Conference Authors
1 Polarity determination of InN by wet etching EMS-23*8
Extended Abstracts of the 23rd Electronic Materials Symposium, Shizuoka, July 7-9, 2004
D. Muto, T. Araki, H. Naoi, F. Matsuda and Y. Nanishi
2 Basic Study on Selective Area Growth of GaN by MBE for Fabrication of Photonic Crystal EMS-23*8
Extended Abstracts of the 23rd Electronic Materials Symposium, Shizuoka, July 7-9, 2004
Y. Nakao, N. Yamashita, T. Araki, H. Naoi and Y. Nanishi
3 Growth of high In-composition InGaN on InN template by RF-MBE EMS-23*8
Extended Abstracts of the 23rd Electronic Materials Symposium, Shizuoka, July 7-9, 2004
M. Kurouchi, H. Naoi, T. Araki, A. Suzuki and Y. Nanishi
4 Influences of thermal oxidation on properties of InN films EMS-23*8
Extended Abstracts of the 23rd Electronic Materials Symposium, Shizuoka, July 7-9, 2004
R. Yoneda, K. Yorozu, T. Araki, A. Suzuki and Y. Nanishi
5 ECR-MBE法による石英ガラス基板上多結晶InN結晶成長とその特性評価 秋季第65回応用物理学会学術講演会
東北学院大学、9月(2004)
荒木努、上野朝隆、直井弘之、名西やすし
6 MBE法を用いたGaN選択成長に関する検討 秋季第65回応用物理学会学術講演会
東北学院大学、9月(2004)
中尾依子、山下直樹、荒木努、直井弘之、名西やすし
7 ECR-MBE法を用いたInGaN成長中のプラズマ発光分光分析 秋季第65回応用物理学会学術講演会
東北学院大学、9月(2004)
寺木邦子、露口招弘、小泉豪、和田純一、荒木努、直井弘之、名西やすし
8 ECR-MBE法によるR面サファイア基板上の立方晶InN成長 秋季第65回応用物理学会学術講演会
東北学院大学、9月(2004)
露口招弘、寺木邦子、小泉豪、和田純一、荒木努、直井弘之、名西やすし
9 MBE法による窒化Ga2O3基板上立方晶GaN成長(1)基板窒化処理の効果 秋季第65回応用物理学会学術講演会
東北学院大学、9月(2004)
和田純一、森岡千晴、藤原圭祐、山口智広、荒木努、名西やすし、大平重男、宍戸統悦
10 MBE法による窒化Ga2O3基板上立方晶GaN成長(2)GaN成長温度依存性 秋季第65回応用物理学会学術講演会
東北学院大学、9月(2004)
森岡千晴、和田純一、藤原圭祐、山口智広、荒木努、名西やすし、大平重男、宍戸統悦
11 ウェットエッチングによるInNの極性評価 秋季第65回応用物理学会学術講演会
東北学院大学、9月(2004)
武藤大祐、荒木努、直井弘之、名西やすし
12 熱酸化によるInNの特性への影響 (1)大気圧下での熱酸化 秋季第65回応用物理学会学術講演会
東北学院大学、9月(2004)
早川祐矢、米田亮太郎、萬謙太郎、直井弘之、荒木努、鈴木彰、名西やすし
13 熱酸化によるInNの特性への影響 (2)大気圧下での熱酸化 秋季第65回応用物理学会学術講演会
東北学院大学、9月(2004)
米田亮太郎、早川祐矢、萬謙太郎、直井弘之、荒木努、鈴木彰、名西やすし
14 ECR-MBE法による石英ガラス基板上多結晶InN成長 第34回結晶成長国内会議(NCCG-34)(2004.8) 荒木努、上野朝隆、直井弘之、名西やすし
15 RF-MBE法による高In組成InGaN成長におけるInNテンプレートの効果 第34回結晶成長国内会議(NCCG-34)(2004.8) 黒内正仁、荒木努、直井弘之、鈴木彰、名西やすし
16 AlGaN/GaNヘテロ構造におけるAlGaN偏光PL特性 春季第52回応用物理学会学術講演会
埼玉大学、3月(2005)
北川幸雄、小坂賢一、土屋忠厳、鈴木彰、荒木努、名西やすし
17 InNテンプレートを用いたInN/InGaN量子井戸構造の作製と評価 春季第52回応用物理学会学術講演会
埼玉大学、3月(2005)
黒内正仁、直井弘之、荒木努、宮嶋孝夫、名西やすし
18 AlGaN/GaN HFET構造におけるAlGaN中Deep LevelのCL評価 春季第52回応用物理学会学術講演会
埼玉大学、3月(2005)
小坂賢一、北川幸雄、土屋忠厳、鈴木彰、荒木努、名西やすし
19 原子状水素照射によるInNの極性評価 春季第52回応用物理学会学術講演会
埼玉大学、3月(2005)
早川祐矢、武藤大祐、直井弘之、荒木努、鈴木彰、名西やすし
20 RF-MBEを用いた (0001) サファイア基板上 高InN組成InxAl1-x成長と光学的評価 春季第52回応用物理学会学術講演会
埼玉大学、3月(2005)
藤原圭祐、黒内正仁、直井弘之、荒木努、名西やすし
21 (0001)サファイア基板の窒化条件によるInNの結晶性への影響 春季第52回応用物理学会学術講演会
埼玉大学、3月(2005)
武藤大祐、米田亮太郎、直井弘之、黒内正仁、荒木努、名西やすし
22 Si (111) 基板上InN結晶成長におけるA1Nバッファ層膜厚依存症 春季第52回応用物理学会学術講演会
埼玉大学、3月(2005)
森岡千晴、宮原学、田中岳利、直井弘之、荒木努、鈴木彰、名西やすし
23 RF-MBE法を用いたシリコン基板上窒化インジウム結晶成長に関する検討 第10回電子情報通信学会関西支部学生会研究発表講演会
近畿大学、3月(2005)
宮原学、森岡千晴、田中岳利、直井弘之、荒木努、鈴木彰、名西やすし


*1 2004 E-MSR Spring Meeting (2004 European Materials Research Society Spring Meeting)
*2 ICCG-14/ICVGE-12 (The 14th International Conference on Crystal Growth in Conjunction with The 12th International Conference on Vaper Growth and Epitaxy
*3 PLMCN-4 (4th InternationalConference on Physics of Light-Matter Coupling in Nanostructures)
*4 IWN-2004 (International Workshop on Nitride Semiconductors)
*5 ISCS-2004 (31th International Symposium on Compound Semiconductors)
*6 2004 MRS Fall Meteting (2004 Materials Reserch Society Fall Meeting)
*7 ICSICT 2004 (The 7th International Conference on Solid-state and Integrated-Circuit Tecnology)
*8 EMS-23 (23nd Electronic Materials Symposium)