X線単結晶方位測定装置"s-Laue"は理工学研究科共用の装置です。
物理学第2実験室に設置しています。

○　特長

X線回折により得られるLaue像から単結晶の方位を調べることが出来ます。
空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となり小型のため、卓上使用が可能で以下の点が優れています。

・単結晶のLaue像を約80秒と高速で取得出来ます。
・顕微鏡を用いた精密な位置合わせが可能です。
・X線を垂直下向きに入射するため、試料の設置が容易です。

○Bi単結晶のLaue像

Bi単結晶試料（白いマスキングテープにて試料台に固定）の顕微鏡画像とs-Laueにて測定した試料のLaue像です。
X線が当たる領域は顕微鏡画像中の緑の円の中で照射径は約Φ0.8mmです。
右側のような鮮明なLaue像を短時間で得ることが可能で、中心からの方位のずれ角度の算出も可能です。