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■藤野研試作チップ(2004年)

電子情報デザイン学科２回生デバイス特性測定実験用チップ
拡散抵抗，MOSFET，インバータ，NANDおよび遅延回路の特性を測定するためのテストチップ
ローム0.35μmルールを使用
　　　
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