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試作チップ紹介
当研究室で取り組まれている研究や，そのための設備などについて紹介します．
藤野研試作チップ(2004年)
電子情報デザイン学科2回生デバイス特性測定実験用チップ
拡散抵抗，MOSFET，インバータ，NANDおよび遅延回路の特性を測定するためのテストチップ
ローム0.35μmルールを使用
レイアウト
納入されたチップ
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藤野研試作チップ(2004年)
