試作チップ評価用ボード「MU-300」

試作したチップの動作検証，任意の入力を与えた時の出力測定など，
実際に試作したチップを実装することで，様々な検証を行うことが出来る．
出力をデジタルデータで出力することも，オシロスコープを直接つないで，アナログの測定を行うことも可能．

恒温槽

半導体を使って設計されるLSIは，様々な環境下（温度，湿度，電源電圧，周辺環境など）で，
様々な特性変化を見せる．
この恒温槽では，そのうちの温度の変化を機械的に作り出す装置で，
−20℃〜80℃超までの様々な環境でのLSIの特性評価に用いる．

オシロスコープ

藤野研ではいろいろな種類のたくさんのオシロスコープがあります．
写真のオシロスコープもその中のひとつで，
それぞれ測定する対象に合わせて必要なオシロスコープを選択します．
藤野研では主に，試作チップの特性評価や消費電力・電磁波の測定に使用します．

サイドチャネル攻撃用標準評価基板「SASEBO-R」

SASEBO-Rは試作したLSIを本ボード上に実装することで，
主にサイドチャネルアタックの評価を行うことをができます．
しかしそれ以外にも，ボード上には試作LSIとFPGAが実装されているため，
FPGAを書き換えることで，試作LSIを組み込んだひとつのシステムとして評価することなど，
いろいろな実験に用いることが出来ます．

また，写真はSASEBO-Rを使って，回路の動作時の消費電力を測っている様子です．

サイドチャネル攻撃用標準評価基板「SASEBO-GII」

こちらのボードも基本的にはサイドチャネルアタックの評価用ボードですが，
このボードにはFPGAが2つ搭載されているために，それぞれのFPGA間での通信や，
試作チップを設計する前段階の検証や実験を行うことが出来ます．

電磁界測定用プローブ

写真はSASEBO-GIIが動作時に発生している電磁波を測定している様子です．
このように，電磁波を測定するには普通のプローブではなくて，
特殊なプローブを使います．

自動ステージのEM環境

こちらは、EMCノイズスキャナーとそれを用いた電磁波解析攻撃の様子です．
電磁波は、測定位置よっても変化するため、このスキャナーで位置を変えながら測定をします.
また、右の写真からオシロスコープで電磁波波形を取得していることが見えます．

他にも．．．

藤野研では他にも違った種類のFPGAボードや，CPUの搭載された特殊なボード，
実験環境があります．