ビームライン　SRセンター　立命館大学　総合科学技術研究機構

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BL-1 極紫外光分光
BL-2 超軟X線分光
BL-3 XAFS
BL-4 イメージングXAFS
BL-5 分散型XAFS
BL-7 光電子分光
BL-8 SORIS (光電子分光/イオン散乱分光)
BL-10 軟X線XAFS
BL-11 超軟X線XAFS
BL-12 軟X線顕微鏡
BL-13 収束軟X線XAFS
BL-15 赤外顕微鏡

> スタンドアローン装置

SA-1 走査型デュアルX線光電子分光分析装置

BL-1 極紫外光分光 Vacuum Ultraviolet Spectroscopy

責任者：理工学部物理科学科今田真、担当者：SRセンター入澤明典

極紫外分光ビームラインでは、4 eV ~ 50 eV (300 nm ~ 25 nm)の範囲で単色化した極紫外光を利用できます。実験装置として紫外光電子分光測定装置と試料に極紫外光を照射する照射室を設置し、分析・加工の両面で光を利用できます。

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BL-2 超軟X線分光 VLS-Grating Soft X-ray Spectroscopy

責任者：生命科学部応用化学科折笠有基、担当者：SRセンター柴田大輔

このビームラインは、不等間隔回折格子を３枚備えており、それらを切り替えることで、X線としては低エネルギー領域である40 eV から1000 eV 程度までのX線吸収分光測定を行うことができます。研究対象元素としてはLiからFまでのK吸収端やMn、Fe、Co、Niなどの遷移金属のL吸収端など扱うことができるほか、基礎的な光化学反応の研究にも利用できます。

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BL-3 XAFS XAFS

責任者：生命科学部応用化学科稲田康宏

BL-3は二結晶分光器と集光ミラーを備えた硬X線XAFSビームラインで、標準の分光結晶Si(220)では3.5 keV ~ 9.2 keVに吸収端をもつ元素のX線吸収スペクトルを測定できます。表面をPtコートしたトロイダルミラーによりビームは2 mm(V) × 4 mm(H)に集光されているため、BL-4と比較して小さなサンプルでの測定が可能です。また、3素子SSDを用いた蛍光XAFSスペクトルを測定することができます。

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BL-4 イメージングXAFS Imaging XAFS

責任者：生命科学部応用化学科稲田康宏

このビームラインは、Si(220)分光結晶を使用して4 keV ~ 10 keVに吸収端をもつ元素のX線吸収微細構造スペクトルを大気中で測定できます。4 mm × 12 mmの領域について、二次元検出器を用いたイメージングXAFS測定も可能です。

BL-5 分散型XAFS Dispersive XAFS

責任者：生命科学部応用化学科稲田康宏

BL-5は白色光とポリクロメーターを用いる時間分解測定のための波長分散型XAFSビームラインです。放射光白色X線は、実験ハッチ内でを湾曲結晶ポリクロメーターによって分光されます。波長分散したX線は試料位置で集光し、透過X線は空間分解検出器で同時測定されます。分光器の駆動無しに一度にスペクトルが取得できるため、固相や液相の化学反応の動的解析に有効です。

BL-7 光電子分光 PES

責任者：理工学部物理科学科滝沢優

このビームラインでは、10 eV ~ 160 eVの放射光による光電子分光と2次元表示型の角度分解光電子分光の測定ができます。 2次元表示型球面鏡エネルギー分析器は奈良先端科学技術大学院大学の大門教授が発明しました。フェルミ面などの等エネルギー面を直視でき、ナノ物質の電子状態の測定などに適しています。

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BL-8 SORIS (光電子分光/イオン散乱分光)
PES Combined with Ion Scattering Spectroscopy

責任者：理工学部物理科学科滝沢優

このビームラインは、光電子分光（10 eV ~ 700 eVの真空紫外光、クラム型エネルギー分析器）、イオン散乱（30 keV ~ 130 keV、高分解能トロイダル分析器）に分子線エピタキシー（MBE）装置（RHEED付き）及び赤外線加熱装置（気体導入可）を装着した複合分析装置で、超高真空下での試料作成とそのin situ分析が可能です。MBEでのヘテロエピタキシャル成長や清浄表面の酸化・窒化などの試料作製に加え、イオン散乱よりその原子配列・元素組成を、光電子分光より電子状態をその場で分析できます。

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BL-10 軟X線XAFS Double Crystal Soft X-ray XAFS

責任者：SRセンター小島一男 / 太田俊明、担当者：SRセンター家路豊成 / 入澤明典

BL-10はBeフィルター、トロイダルミラー、ゴロブチェンコ型2結晶分光器、I₀メッシュモニターで構成される、約1 keV ~ 4 keVの軟X線が利用可能な軟X線XAFSビームラインです。Na～CaのK吸収端やZn～SbのL吸収端XAFS測定が可能です。真空中の測定だけでなくHe雰囲気の大気圧条件下での測定も可能です。嫌気性試料用にトランスファーベッセルも用意されています。

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BL-11 超軟X線XAFS Grating Soft X-ray XAFS

責任者：SRセンター小島一男、担当者：SRセンター柴田大輔

このビームラインは、不等間隔回折格子を３枚備えており、それらを切り替えることで、40 eV から1000 eV 程度までのX線吸収分光測定を行うことができます。研究対象元素としてはLiからFまでのK吸収端やMn、Fe、Co、Niなどの遷移金属のL吸収端の測定が可能であり、蓄電池材料に代表される様々な機能性材料の評価に活用できます。

BL-12 軟X線顕微鏡 Soft X-ray Micriscopy

責任者：理工学部物理科学科今田真 / 生命科学部応用化学科折笠有基

このビームラインの撮像方式は、2枚のゾーンプレートを使い、大気中試料の拡大像（約1000倍）をCCDカメラでとる結像型であり、50 nmの分解能を得ています。生きた細胞内構造を高分解能で観察するのに適しているため、医学診断学や材料科学の分野で幅広く利用できます。

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BL-13 収束軟X線XAFS Double Crystal Soft X-ray XAFS

責任者：SRセンター小島一男 / 太田俊明、担当者：SRセンター入澤明典

このビームラインは、トロイダル前置鏡で擬似平行光にし、二結晶分光器で分光した平行光をトロイダル後置鏡で点収束する光学系で構成されています。これにより、高エネルギー分解能で、小さなサイズの軟Ｘ線ビームを提供できます。また、全電子収量法、蛍光X線収量法を同時に測定することができるため、試料の深さ分解解析も可能です。利用可能なエネルギー範囲は、分光結晶を交換することで約1000 eV ~ 5000 eVです。

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BL-15 赤外顕微鏡 Infrared Microscopy

責任者：SRセンター小島一男、担当者：SRセンター家路豊成 / 入澤明典

このビームラインは、リングチェンバー内に広幅のミラーを取り付けて放射光の赤外成分を取り出し、FT-IR、さらに、赤外顕微鏡に導入して、遠赤外-中赤外-近赤外領域の顕微赤外分光を行うビームラインです。有機化合物の特定の官能基の2次元空間分布のイメージング、特定箇所の赤外分光スペクトル測定が可能です。

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SA-1 走査型デュアルX線光電子分光分析装置 Scanning Soft and Hard X-Ray Photoemission (SX&HX-ESCA)

責任者：理工学部物理科学科今田真、担当者： SRセンター入澤明典

走査型デュアルX線光電子分光分析装置は、走査型光源を用いて硬・軟X線光電子分光を行える装置(ULVAC-PHI社製 Quantes)です。同一試料表面に対して単色化Cr Kα線(5414.7 eV)による硬X線光電子分光と単色化Al Kα線(1486.7 eV)による軟X線光電子分光の両方を行うことができます。なお、本装置はスタンドアローン装置のため、ビームラインとは利用スケジュールが異なります。詳しくは担当者までお問い合わせ下さい。